กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) (อังกฤษ: Scanning Electron microscope) ประดิษฐ์ขึ้นครั้งแรกเมื่อปี พ.ศ. 2481 โดยเอม วอง เอนเดนนี ใช้ศึกษาโครงสร้างภายนอกของวัตถุ ลักษณะผิวภายนอกของเซลล์ ผิวโลหะ มองเห็นความลึกภาพปรากฏบนจอคอมพิวเตอร์เป็นภาพ 3 มิติ มีกำลังขยายสูงหลายหมื่นเท่า

ใกล้เคียง

กล้อง กล้องโทรทรรศน์อวกาศฮับเบิล กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน กล้องจุลทรรศน์ กล้องโทรทรรศน์อวกาศเจมส์ เวบบ์ กล้องโทรทรรศน์ซูบารุ กล้องโทรทรรศน์ กล้องไร้กระจก กล้องจุลทรรศน์แบบส่องกราดในอุโมงค์ กล้องโทรทรรศน์อวกาศเคปเลอร์